Опис документа:
| |
Шифр: |
53 |
Авт. знак: |
Feld |
Автор: | Feldman Leonard C., Mayer James W. |
Назва: | Fundamentals of surface and thin film analysis |
Видавництво: | North-Holland |
Місто: | New York |
Рік: | 1986 |
Сторінок: | 352 с. |
ББК: |
В371.25+В371.26 |
Тип документу: |
Книга |
Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402. |
|
|
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|