Опис документа:
| |
Шифр: |
А |
Авт. знак: |
132683 |
Автор: | Шафранюк В.П. |
Назва: | Изучение дефектов структуры в реальных кристаллах с помощью рентгеновской интерферометрии. |
Від. щодо назв.: |
Автореф... Канд.физ-мат.наук: 01.04.07 |
Відповідальність: |
Шафранюк В.П.; МВ и ССО УССР.Черновиц.гос.ун-т. |
Місто: | Черновцы |
Рік: | 1986 |
Сторінок: | 19л. |
ББК: |
В371 |
Тип документу: |
Автореферат |
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|