Опис документа:
| |
| Шифр: |
А |
| Авт. знак: |
106094 |
| Автор: | Файнштейн А.Л. |
| Назва: | Развитие структурной протнографии в области исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и тонких пленок с помощью протонограмм. |
| Від. щодо назв.: |
Автореф... канд. физ.-мат.наук: 01.04.07 |
| Відповідальність: |
Файнштейн А.Л.; Харьков. гос. ун-т. |
| Місто: | Х. |
| Рік: | 1976 |
| Сторінок: | 24л. |
| ББК: |
В372.17 |
| Тип документу: |
Автореферат |
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека
читачів не обслуговує.
|
|
|
|
|
