Опис документа:
| |
Шифр: |
А |
Авт. знак: |
106094 |
Автор: | Файнштейн А.Л. |
Назва: | Развитие структурной протнографии в области исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и тонких пленок с помощью протонограмм. |
Від. щодо назв.: |
Автореф... канд. физ.-мат.наук: 01.04.07 |
Відповідальність: |
Файнштейн А.Л.; Харьков. гос. ун-т. |
Місто: | Х. |
Рік: | 1976 |
Сторінок: | 24л. |
ББК: |
В372.17 |
Тип документу: |
Автореферат |
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|