Исследование возможностей метода дифракции быстрых электронов на отражение и его применение для крсталлографического изучения эпитаксиальных пленочных систем.
Від. щодо назв.:
Автореф... канд. физ.-мат.наук: 01.04.10
Відповідальність:
Торчун Н.М.; АН УССР. Ин-т полупроводников.
Місто:
К.
Рік:
1974
Сторінок:
24л.
ББК:
З844.1
Тип документу:
Автореферат
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека читачів не обслуговує.
Вибачте, зараз проходить оновлення бази системи, тому пошук тимчасово недоступний.
Спробуйте будь ласка через 20 хвилин