Опис документа:
| |
Шифр: |
А |
Авт. знак: |
120204 |
Автор: | Растрененко Наталья Алексеевна |
Назва: | Исследование физических свойств поверхности полупроводников эллипсо-метрическим методом |
Від. щодо назв.: |
Автореф... канд. физико-матем.наук: 01.04.10 |
Відповідальність: |
Растрененко Наталья Алексеевна; АН УССР, Ин-т полупроводников |
Місто: | Киев |
Рік: | 1981 |
Сторінок: | 16л. |
ББК: |
В379.212.5 |
Тип документу: |
Автореферат |
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|