Применение метода вторичной ионно-ионной эмиссии для количественного определения содержания и распределения примесей в твердых телах и для исследования некоторых процессов, протекающих в твердых тел
Від. щодо назв.:
Автореф... канд. физ.-мат.наук: 01.04.04
Відповідальність:
Пистряков Виктор Михайлович; МГУ. Науч.-исслед. ин-т ядерной физики