Опис документа:
| |
Автор: | Melkov G.A., Pan V.M., Tarasov V.M., Vysotskii V.V. |
Назва: | Microowave surface risistance measurements in YBCO/Au bilayer films and observation of proximity effeck |
Видавництво: | IOP Publishing Ltd |
Рік: | 2000 |
Відомості про видання: |
IOP Publishing Ltd |
Тип документу: |
Складова частина документа |
Головний документ: |
Inst.Phys.Conf.Ser.№167. Ser.№167. - 2000 |
Для перевірки можливості замовлення цієї складової частини перейдіть на головний документ!
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|