Опис документа:
| |
Шифр: |
621.3 |
Авт. знак: |
Мето |
Назва: | Методы измерения параметров полупроводниковых приборов |
Відповідальність: |
Иглицын М.И. |
Місто: | Москва |
Рік: | 1961 |
Сторінок: | 263 с. |
ББК: |
62 |
Тип документу: |
Книга |
Документ знаходиться у фонді РАДІОФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4г, другий поверх, кім. 26,28. |
|
|
Вибачте, зараз проходить оновлення бази системи, тому пошук тимчасово недоступний.
Спробуйте будь ласка через 20 хвилин
|
|