Одночасне визначення товщини і показника заломлення тонкого шару за допомогою мікроінтерферометра "МИИ-1"

eng

Увага! Відтепер можна отримати пластиковий читацький квиток також за адресою:
проспект академіка Глушкова 2, кім. 217.
Подробиці читайте тут.

Список містить (0 документів)
Ваше замовлення (0 книжок)
Перегляд стану та історії замовлень
Допомога

Опис документа:


Шифр:	53
Авт. знак:	61 п
Автор:	Костишин М.Т., Шишловський О.А.
Назва:	Одночасне визначення товщини і показника заломлення тонкого шару за допомогою мікроінтерферометра "МИИ-1"
Сторінок:	С. 27-35
ББК:	В343.23
Тип документу:	Книга

Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402.

Вибачте, зараз проходить оновлення бази системи, тому пошук тимчасово недоступний.
Спробуйте будь ласка через 20 хвилин


	Цей сайт створено за спiльною програмою UNDP та Київського нацiонального унiверситету iменi Тараса Шевченка проект УКР/99/005

	© 2000-2010 yawd, irishka, levsha, alex