Рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов. Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик и основные источники их погрешностей. Особое внимание уделено использованию ЭВМ в исследованиях полупроводников.
Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402.
