In the last few years, low temperature plasmas have been used more and more in a great number of scientific and technological fields, and optical emission spectroscopy (OES) has been the most commonly used technique for their analysis. The usual opticalsystem employed for plasma diagnostics is composed of a spectrometer or monochromator, detector and optical fiber or lenses, which must be calibrated to correct the different spectral responses of each component in this system. Therefore, methodologicalguidelines for determination and calibration of spectral response of optical instruments are presented through the calculation of spectral sensitivity of the high-aperture compact SDH-IV spectrometer in the spectral range from 345 to 605 nm. Calibrationof spectrum was performed by fitting of measured emission of a tungsten ribbon lamp and halogen lamp to theoretically calculated values.
Упродовж останніх років низькотемпературна плазма знаходить все більшого застосування в наукових та технологічних сферах, при цьому, найбільш поширеним методом для діагностики такої плазми є оптична емісійна спектроскопія (ОЕС). Зазвичай найпростіша оптична система для визначення та дослідження параметрів плазми складається зі спектрометра чи монохроматора, оптичн&ого датчика та оптоволокна або системи лінз. Усі елементи системи мають бути попередньо відкаліброваними з метою коригування різниці у спектральних відгуках кожного з них. Запропоновано методичні вказівки для визначення та калібрування спектральної ч&утливості оптичних приладів на прикладі розрахунків спектрального відгуку високоапертурного компактного спектрометра SDH-IV у діапазоні довжин хвиль від 345 до 605 нм. Як еталонні джерела випромінювання для калібрування спектра використано вольфрамов&у стрічкову і галогенову лампи.
На протяжении последних лет низкотемпературная плазма находит всё большее применение в науке и технике, при этом, наиболее распространённым методом диагностики такой плазмы является оптическая эмиссионная спектроскопи&я (ОЭС). Простейшая оптическая система для определения и исследования параметров плазмы состоит из спектрометра или монохроматора, оптического датчика и оптоволокна или системы линз. С целью корректировки разницы спектральных откликов каждого из элем&ентов оптической системы она должна быть предварительно откалибрована. Предлагаются методические рекомендации для определения и калибровки спектральной чувствительности оптических приборов, что показано на примере расчёта спектрального отклика высоко&апертурного компактного спектрометра SDH-IV в диапазоне длин волн от 345 до 605 нм. В качестве эталонных источников излучения для калибровки спектра использованы вольфрамовая ленточная и галогенная лампы.
