Високі стандарти якості патентів - причина втрати США технологічних переваг
Рік:
2017
Сторінок:
С. 22-24
Тип документу:
Стаття
Головний документ:
Інтелектуальна власність в Україні: науково-практичний журнал / ТОВ "Аспект-2003" ; Всеукр. Асоціація представників у справах інтелект. власності (патентних повірених) - ВААП ; голов. ред. Абдуліна І.В.. № 9. - Київ, 2017