Мікролінзування протяжними структурами зі сферично-симетричним розподілом маси
Видавництво:
ВПЦ "Київський університет"
Рік:
2016
Сторінок:
C. 29-32
Тип документу:
Стаття
Головний документ:
Київський Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка / Київський, університет імені національний. - Київ: ВПЦ "Київський університет", 2016
Анотація:
Розглянуто мікролінзування точкового віддаленого джерела на одиночних протяжних структурах, що можуть представляти згустки темної матерії, з сферично-симетричним розподілом маси без особливості у центрі. Проведено аналітичний аналіз лінзового відображення, визначено області параметрів, що відповідають різній кількості зображень точкового джерела. Розраховано залежності коефіцієнту підсилення від часу (криві підсилення), що виникають при відносному русі джерела та мікролінзи. Показано, що для широкого діапазону параметрів криві підсилення протяжної мікролінзи важко відрізнити від аналогічних кривих в стандартній моделі точкової мікролінзи на сучасному рівні фотометричної точності.
Рассмотрена задача о линзировании точечного удаленного источника на одиночных протяженных микролинзах, которые могут
представлять сгустки темной материи, со сферически-симметричным распределением массы без особенности в центре. Выполнен аналитический анализ линзового отображения, определены области параметров, которые отвечают разному количеству изображений точечного источника. Рассчитаны зависимости коэффициента усиления от времени, возникающие при относительном движении источника и микролинзы. Показано, что для широкого диапазону параметров кривые усиления для протяж&енной микролинзы сложно отличить от аналогичных кривых в стандартной модели точечной микролины на современном уровне фотометрической точности.
