Опис документа:
| |
Автор: | Busko T.O., Kulish M.P., Slisarenko D.A., Onanko A.P., Lyashenko O.V., Onanko Y.A., Shabatura O.V., Prodayvoda G.T., Vyzhva S.A. |
Назва: | Influence of ultrasound, defect nanostructure changing on inelastic caracteristics of SiO2, SiO2+TiO2+ZrO2+ Ag+ Au |
Видавництво: | Київський університе |
Рік: | 2011 |
Сторінок: | P. 117-119 |
Тип документу: |
Складова частина документа |
Головний документ: |
Twelfth International Young Scientists Conference "Optics & High Technology Material Science SPO 2011" |
Для перевірки можливості замовлення цієї складової частини перейдіть на головний документ!
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека читачів не обслуговує.
|
|
|
Вибачте, зараз проходить оновлення бази системи, тому пошук тимчасово недоступний.
Спробуйте будь ласка через 20 хвилин
|
|