Авторами статті проведено аналіз можливостей різноманітних методів контролю оптичних параметрів напівпровідникових матеріалів, які є перспективними для використання в якості функціональних матеріалів для інфрачервоних (ІЧ) фотовипромінювачів та фотоприймачів.
Авторами статьи проведен анализ возможностей разнообразных методов контроля оптических параметров полупроводниковых материалов, которые являются перспективными для использования в качестве функциональных материалов для инфракрасных (ИК) фотоизлучателей и фотоприемников.
Authors of article carry out the analysis of opportunities of a various quality monitoring of optical parameters of semi-conductor materials, which are perspective for use as functional materials for infrared (IR) photoradiatorsand photodetectors.
