Запропоновано нову методику керування параметрами фотоелектричних перетворювачів (ФЕП) на підставі аналізу комплексного показника якості і надійності. Показано можливість застосування методики для керування режимами формування антивідбиваючих покриттівФЕП. Отриманні результати можуть бути використані при розробці чи удосконаленні технології виробництва кремнієвих фотоперетворювачів для підвищення їх якості і надійності.
Предложена новая методика управления параметрами фотоэлектрических преобразователей (ФЭП) на основе анализа комплексного показателя качества и надежности. Показана возможность применения методики для управления режимами формирования антиотражающих покрытий ФЭП. Полученные результаты могут быть использованы при разработке или усовершенствовании технологии изготовления кремниевых фотопреобразователей для повышения их качества и надежности.
On the basis of the analysis of a complex index of quality and reliability is offered the new technique of solar cells parameter control. The possibility of the technique application for control of antireflective coating deposition modes is demonstrated. The obtained results can be utilised at development or refinement of silicon solar cell production technology for increase of their quality and& reliability.
