Forced frequency synchronization of the active probe of the microwave microscope is considered. A method of probe"s sensitivity increasing based on the quasiperiodic regime with high curvature of the frequency characteristic was proposed.
Розглянуто ефект вимушеної синхронізації частоти активного зонда мікрохвильового мікроскопа при дії зовнішнього поля з частотою близькою до резонансної. Запропоновано використати квазіперіодичний режим для підвищення чутливості зонда до малих змін діелектричної проникності.
Рассмотрен эффект вынужденной синхронизации частоты активного зонда микроволнового микроскопа под действием внешнего поля с частотой близкой к резонансной. Предложено использовать квазипериодический режим для повышения чувствительности зонда к малым изменениям диэлектрической проницаемости.
