В работе кратко описаны следующие методы анализа спектров эмиссионных образований, разработанные на Астрономической обсерватории Киевского университета: определения оптических толщ по контурам эмиссионных линий и по числу наблюдаемых линий в серии Бальмера; определения электронной концентрации по росту полуширин линий в водородных сериях с номером и по номеру предельно наблюдаемой линии в серии; определения структуры и оптической толщи структурно-неоднородных образований с большой скважностью и без скважности; определения всех основных физических параметров излучающего объекта в результате решения уровнений стационарности для водорода по данным об ин-тенсивностях бальмеровских линий; определения характерных значений энергии излучения оптических солнечных вспышек. Приведены также результаты определения описанными методами характеристик вспышек разной интенсивности.
