Опис документа:
| |
Шифр: |
53 |
Авт. знак: |
Вали |
Автор: | Валиев Р.З. |
Назва: | Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии |
Видавництво: | Наука |
Місто: | Москва |
Рік: | 1991 |
Сторінок: | 230,1с. |
ББК: |
В3 |
ISBN: | 5-02-000195-3 |
Тип документу: |
Книга |
Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402. |
|
|
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|