Розглядається алгоритм побудови діагностичної моделі транзистора в режимі відсічки для енергодинамічного методу діагностування. Даний алгоритм дозволяє визначати діагностичні параметри транзистора і являється основою для побудови автономних автоматизованих систем технічного діагностування об’єктів радіоелектронної техніки.
Рассматривается алгоритм построения диагностической модели транзистора в режиме отсечки для энергодинамического метода диагностирования. Данный алгоритм позволяет определять диагностические параметры транзистора и является основой для построения автономных автоматизированных систем технического диагностирования объектов радиоэлектронной техники
An algorithm for the construction of the diagnostic model transistor in the cutoff Energodynamic method of diagnosis. This algorithm allows to determine the diagnostic parameters of the transistor, and is the basis for a stand-alone automated technical diagnostic facilities of electronic equipment
