Опис документа:
| |
| Шифр: |
53 |
| Авт. знак: |
Вави |
| Автор: | Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. |
| Назва: | Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках |
| Серія: |
Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП |
| Відповідальність: |
В.С. Вавилов, А.Е. Кив, О.Р. Ниязова |
| Видавництво: | Наука |
| Місто: | Москва |
| Рік: | 1981 |
| Сторінок: | 368 с. |
| ББК: |
В379.212.2 |
| Тип документу: |
Книга |
| Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402. |
|
|
|
|
