Наведено результати дослідження можливості використання позиційно-чутливого мікропіксельного детектора ТітеРіх для вимірювання та відображення в реальному часі динаміки фазових перетворень у металах та сплавах при швидкісному нагріванні та охолодженні. Дослідження проводились на установці швидкісного рентгенографування швидкоплинних процесів, розробленій в Інституті проблем матеріалознавства НАН України. При експозиціях від кількох десятків до кількох сотень мілісекунд спостерігали еволюцію положення дифракційних максимумів розсіяних рентгенівських квантів (енергія -10 кеВ) по мірі нагрівання чи охолодження армко-заліза зі швидкістю від 100 до 250 °С/с. Наводяться значення визначених таким чином параметрів кристалічної ґратки альфа- та гамма-фаз у температурному діапазоні від 20 до 1250 °С.
