Проведено спектроеліпсометричні дослідження надтонких плівок алюмінію різной товщини. Результати обрахунків представлено у вигляді спектральних залежностей оптичної провідності [сигма]. Виявлені зміни структури плівок при їх виготовленні в залежності від товщини.
