Методами рентгенівського фазового та рентгеноструктурного аналізів у повному концентраційному інтервалі досліджені сплави системи Y-Si-Ga. Встановлено існування трьох потрійних сполук (1- YSi[нижній індекс 1,85-1,40]Ga[нижній індекс 0,15-0,60]; 2 - YSi[нижній індекс 0,5]Ga[нижній індекс 1,5]; 3 - Y[нижній індекс 1,11]Si[нижній індекс 1,52]Ga[нижній індекс 0,37]) та визначено їх кристалічну структуру. За результатами рентгенівського фазового аналізу досліджених сплавів з врахуванням цих потрійних сполукпобудовано ізотермічний переріз діаграми стану системи Y-Si-Ga при 800[градусів]С.