Опис документа:
| |
| Шифр: |
621.3 |
| Авт. знак: |
Phys |
| Автор: | Belyaev A.E., Boltovets N.S., Venger E.F, Konakova R.V., Kudryk Ya. Ya., Milenin V.V., Milenin G.V. |
| Назва: | Physico-technological aspects of degradation of silicon microwave diodes |
| Паралельна назва: |
Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів |
| Серія: |
Project "Ukrainian scientific book in a foreign language" |
| Паралельна назва серії: |
Проект "Українська наукова книга інозесною мовою" |
| Відповідальність: |
[A.E. Belyaev et al. ; gen. ed.: A.E. Belyaev et al. ; Nat. akad. of sciences of Ukraine etc.] |
| Видавництво: | Akademperiodyka |
| Місто: | Kyiv |
| Рік: | 2011 |
| Сторінок: | 179, [3] p. |
| ББК: |
З852.2+В379.231.21 |
| ISBN: | 978-966-360-176-2 |
| Тип документу: |
Книга |
| Примітки: |
Парал. тит. арк. укр. мовою.-Авт. на обкл. не зазнач. |
| Документ знаходиться у фонді РАДІОФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4г, другий поверх, кім. 26,28. |
|
|
|
|
