Еліптичним методом виміряно головний кут і еліптичність світла, відбитого від поверхні мідних дзеркал алмазного мікроточіння. Виявлено високу чутливість виміряних величин до відпалу, способу нанесення відбиваючого шару, режиму осадження та ін. Отримано залежності головного кута та еліптичності від товщини окисного шару й від шорсткості відбиваючої поверхні. Зроблено припущення, що деякі технологічні фактори впливають на товщину шару оксиду на поверхні дзеркала, а інші змінюють оптичні сталі металевої підкладки.
