Досліджені спектральні залежності еліпсометричних параметрів, а саме азимуту відновленої лінійної поляризації Ф [подано формулу] та зсуву фаз між p- та s-компонентами А [подано формулу] відбитої світлової хвилі, при збудженні поверхневих поляритонів длятонких плівок перехідних металів Cr, Ni, Ті, Мо та Fe. Спектральні залежності розраховувались по формулам Ейрі. Плівки знаходились на скляних підкладинках. Аналіз одержаних результатів показав, що для всіх досліджених плівок максимуми на кривих залежності величини tgФ[подано формулу] від довжини світлової хвилі Л [подано формулу] відповідають максимумам на кривих залежності оптичної провідності від довжини світлової хвилі, які викликані відповідними міжзонними переходами. Таким чином вимірювання спектральних залежностей еліпсометричних параметрів при збудженні поверхневих поляритонів в тонких плівках перехідних металів дають змогу вивчати міжзонні переходи в цих металах.
Ключові слова .тонкі плівки, поверхневі поляритони, еліпсометричні параметри, спектральні залежності.
Spectral dependencies of ellipsometric parameters as follows azimuth of the restored linear polarization Ф […] and phase shift between p - and s -components A of the reflected light wave at excitation surface polaritons for thin& film of transition metals Cr, Ni, Ті, Mo and Fe were investigated. Airy formulas were used at calculations of spectral dependencies. The films were on glass substrate. The obtained results show that all these transitional metals maximums on dependen&cies of the value tgФ […] on length of the light wave А […] coincident with maxima on dependencies of the optical conductivity on length of the light wave, which is caused corresponding to interband transitions. So, measurements of the spectral depen&dencies of the ellipsometric parameters at excitation surface polaritons in thin films of transition metals enable to study of interband transitions in these metasl.
Key Words: thin films, surface polaritons, ellipsometric parameters, spectral depen&dencies.
