Запропоновано компактний пристрій спряження (ПС) з використанням будь-якого ІВМ сумісного комп"ютера, що дозволяє повністю автоматизувати процес вимірів і обробки результатів досліджень оптичних характеристик і параметрів напівпровідникових сполук А[верхній індекс 2]В[верхній індекс 6], А[верхній індекс 3]В[верхній індекс 5], потрійних сполук, а також інших оптично чутливих матеріалів в області довжин хвиль від 0.18 до 2.5 мкм. Підключення ПС до комп"ютера здійснюється через стандартний порт Centronics. Програмне забезпечення може бути виконано мовою Basic, Pascal, Delphi.
