Опис документа:
| |
| Автор: | Лєнков С.В., Гаркавенко М.І., Видолоб В.В. |
| Назва: | Порівняльний аналіз методів контролю оптичних властивостей напівпровідників, які використовуються в елементах оптоелектроніки інфрачервоного діапазону |
| Видавництво: | ВІКНУ |
| Рік: | 2006 |
| Сторінок: | С. 88-93. |
| Тип документу: |
Стаття |
| Головний документ: |
Київський Збірник наукових праць / Київський, університет імені національний. - Київ: ВІКНУ, 2006 |
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека
читачів не обслуговує.
|
|
|
|
|
