Опис документа:
| |
Автор: | Лєнков С.В., Гаркавенко М.І., Видолоб В.В. |
Назва: | Порівняльний аналіз методів контролю оптичних властивостей напівпровідників, які використовуються в елементах оптоелектроніки інфрачервоного діапазону |
Видавництво: | ВІКНУ |
Рік: | 2006 |
Сторінок: | С. 88-93. |
Тип документу: |
Стаття |
Головний документ: |
Київський Збірник наукових праць / Київський, університет імені національний. - Київ: ВІКНУ, 2006 |
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|