Опис документа:
| |
Шифр: |
621.3 |
Авт. знак: |
Иссл |
Назва: | Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов |
Місто: | Москва |
Рік: | 1969 |
Номер частини: |
Вып. 4 |
Сторінок: | 166 с. |
Тип документу: |
Книга |
Документ знаходиться у фонді РАДІОФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4г, другий поверх, кім. 26,28. |
|
|
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|