Опис документа:
| |
| Шифр: |
05 |
| Авт. знак: |
Micr |
| Назва: | Microelectronics and Reliability |
| Від. щодо назв.: |
an International Journal & World Abstracting Service |
| Видавництво: | Pergamon Press |
| Місто: | Oxford-New York-Beijing-Frankfurt-Sao Paulo-Sydney-Tokyo-Toronto |
| Рік: | 1989 |
| Номер частини: |
Vol. 29, N 3 |
| Сторінок: | P. 297-460 |
| ББК: |
. |
| ISSN: |
0026-2714 |
| Тип документу: |
Журнал |
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека
читачів не обслуговує.
|
|
|
|
|
