Тонкі плівки родаміну 6Ж на металевій та напівпровідниковій підкладках вивчалися за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та спектральної еліпсометрії. Скануюча тунельна мікроскопія зразків барвник-металева підкладка дозволила отримувати профіль інтерфейсу метал-напівпровідник з атомною просторовою роздільною здатністю 0.08 нм. Методика міжшарової тунельної мікроскопії була проаналізована за допомогою квантово-механічного підходу.
Thin Rhodamine 6G films on a metal and a semiconductor substrates were studied by scanning tunneling microscopy and spectral ellipsometry techniques. Scanning tunneling microscopy of dye on a metal substrate allowed obtaining interlayer surface profile with atomic spatial resolution 0.08 nm. Interlayers scanning tunneling microscopy technique was analyzed by quantum mechanics approach.
З 31.12.2014 по 01.03.2015 Наукова бібліотека читачів не обслуговує.
