Створена комп"ютеризована оптична система на базі мікроскопу МБИ-8М, яка доволяє проводити аналіз зображень треків на поверхні ТТДЯВ у напівавтоматичному режимі. В якості зразків представлені опрацьовані зображення окремих треків [альфа]-частинок і кластеру гарячої частинки.