Розроблена методика визначення характеру заселення збуджених електронних рівнів атомів за емісійними спектрами з слабо розділеною структурою мультиплетів. За допомогою даної методики досліджено плазму поперечної дуги. Промодельовані мультиплети атомарного кисню з урахуванням апаратних функцій, півширина яких змінюється в межах від 0,2 до 2 нм Отримані результати можуть бути використані для діагностики плазми спектральними приладами з апаратними функціями гаусовського типу.
The defenition method of thecharacter of the excitated electron levels ocupation from atomic emition spectum with low separeted structure of the mulliplels was suggested. The plasma of transversal electric arc was investigated by the developed method Some multplets of the atomic oxigen were simulated with taking into account the apparatus functions with halfwidth changing from 0,2 to 2 nm. The received results could be used for diagnostic of the plasma by the spectral equipment that have hardware function of the Gauisian type.
