Досліджено залежності величин частот ліній КРС в кристалах ТеО[нижній індекс 2] від напрямку та величини хвильового вектора фонона q, проведено порівняння з залежностями в кристалах ZnP[нижній індекс 2] та CdP[нижній індекс 2]. Встановлено існування різних типів кутової залежності розщеплення дублетів Е-симетрії при різних співвідношеннях внесків просторової дисперсії та далекодіючої кулонівської сили. Встановлено причину позірної аномалії залежності розщеплення Е-дублету 122 см[верхній індекс -1] від |q|, уточнено класифікацію ліній КРС за типами симетрії.
