Defect recognition and image processing in semiconductors 1997
Від. щодо назв.:
Proceedings of the Seventh International conference on defect recognition and image processing in semiconductors (DRIP 7) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997
Серія:
Institute of physics conference series
Номер випуску серії:
Nr. 160
Відповідальність:
Edited by J.Donecker and I.Rechenberg
Видавництво:
Institute of physics
Місто:
Bristol; Philadelphia
Рік:
1998
Сторінок:
20,524p.
ББК:
В379.212.2в734я431
ISBN:
0-7503-0500-2
Тип документу:
Книга
Документ знаходиться у фонді ФІЗИЧНОГО факультету за адресою: проспект акад. Глушкова 4, четвертий поверх, кім. 400,402.
